TSI 1NM 掃描電遷移粒徑譜儀3938E57

1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優(yōu)勢

快速獲得粒徑和數(shù)量濃度的高分辨率數(shù)據(jù)

·優(yōu)化使擴散損失最小

·1至50nm間>109個通道

·配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1μm 3個粒徑數(shù)量級的粒子

模塊化組件設(shè)計，可以根據(jù)用戶測量需求定制，例如單獨使用1nm CPC等

內(nèi)置診斷和自動檢測系統(tǒng)組件，可以獲得可靠和可重復(fù)的測量數(shù)據(jù)

易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件

多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品

1NM掃描電遷移粒徑譜儀應(yīng)用范圍

基礎(chǔ)氣溶膠研究

通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產(chǎn)生和成核/凝結(jié)）研究粒子成核和粒子生長。

燃燒和發(fā)動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動機、塑料成型和焊接

過濾研究

吸入或暴露室研究

*SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數(shù)器等組件。

1NM掃描電遷移粒徑譜儀技術(shù)資料

●1NM掃描電遷移粒徑譜儀規(guī)格表